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日本Otsuka量子效率測量系統(tǒng)QE-2000/2100 ? 可瞬間測量絕對量子效率（絕對量子收率） ? 可去除再激勵(lì)熒光發(fā)光 ? 采用了積分半球unit，實(shí)現(xiàn)了明亮的光學(xué)系 ? 采用了低迷光多通道分光檢出器，大大減少了紫外區(qū)域的迷光

日本Otsuka界達(dá)電位ELSZ-2000 使用了新型高感度APD，感度提升及縮短測量時(shí)間 通過測量自動溫度梯度空間，可分析出変性?相轉(zhuǎn)移溫度 可測量0～90℃大范圍內(nèi)的溫度 追加了大范圍的分子量測量及解析功能 懸濁類高濃度樣品的粒徑?ZETA電位的測量 實(shí)測cell內(nèi)的電氣滲透流，解析plot，提供高精度的ZETA 電位測量結(jié)果 高鹽濃度溶液的ZETA電位測量 小面積樣品的平板ZETA電位

固體激光器的激光多普勒測速儀LDV TSI的一維、二維或三維（1D,2D或3D）激光多普勒測速（LDV）系統(tǒng)，包含 新型的PowerSight固態(tài)激光器，絕對讓您耳目一新。該款全新增強(qiáng)型系統(tǒng)整合了PowerSight模塊，該模組由新型固態(tài)激光器、傳輸和接收光組件以及各種電子控制裝置組成，可以作為獨(dú)立解決方案。

Keithley 4200A-SCS半導(dǎo)體參數(shù)分析儀 使用 4200A-SCS參數(shù)分析儀（參數(shù)測試儀）加快各類材料、半導(dǎo)體器件和*工藝的開發(fā)，完成制程控制、可靠性分析和故障分析。4200A-SCS是業(yè)內(nèi)性能領(lǐng)xian電學(xué)特性參數(shù)分析儀，提供同步電流電壓曲線測試 (I-V曲線測試)、電容-電壓曲線測試 (C-V曲線測試) 和超快脈沖 I-V曲線測量。

Raytek® Compact MI3 紅外測溫探頭/高溫計(jì) 雷泰MI3紅外溫度傳感器代表在連續(xù)非接觸式溫度監(jiān)測的新一代的性能和創(chuàng)新，并廣泛應(yīng)用于OEM應(yīng)用和制造工藝中。 MI3紅外測溫儀是一個(gè)由一個(gè)微型傳感頭和一個(gè)獨(dú)立的通訊電子系統(tǒng)兩部分組成的測溫系統(tǒng)。微型傳感頭可安裝在大多數(shù)系統(tǒng)中，并在性能上優(yōu)于更大體積的傳感器，使雷泰MI3在同級別紅外溫度傳感器中較有優(yōu)勢。

ThermoView TV40工業(yè)固定式熱成像系統(tǒng)紅外 ThermoView TV40是一款高性能的工業(yè)固定式熱成像系統(tǒng)，通過提供紅外和可見光視頻流，從而能夠?qū)囟葦?shù)據(jù)可視化，幫助加深您對工藝過程的了解。TV40能夠全面地提供集成化的溫度控制、監(jiān)控和數(shù)據(jù)存檔解決方案。

福祿克Raytek® MP150 高速線掃描紅外測溫儀 雷泰MP150紅外行掃描儀是專為使用在高要求的工業(yè)環(huán)境中使用，并可以測得運(yùn)動物體的準(zhǔn)確溫度圖像。這種多點(diǎn)測量由一個(gè)旋轉(zhuǎn)的光學(xué)系統(tǒng)來實(shí)現(xiàn)的，它可以在90°視野范圍內(nèi)，在一條直線上收集高達(dá)1024點(diǎn)的紅外輻射結(jié)果。

福祿克Raynger 3i Plus手持式紅外測溫儀-華普通用 Raytek® Raynger 3i Plus 高溫手持式紅外測溫儀設(shè)計(jì)用于滿足眾多工業(yè)應(yīng)用中的過程性能要求，包括原生和再生金屬加工以及石化和發(fā)電廠運(yùn)行的苛刻的高溫環(huán)境。 關(guān)鍵指標(biāo) 溫度量程： 700 至 3000ºC (1292 至 5432ºF) 400 至 2000ºC (752 至 3632ºF) 距離系數(shù)比(D:S)：250